密封完整性檢測方法-真空衰減法
真空衰減法是一種無(wú)損、定量的檢測非多孔、剛性或柔性包裝泄漏的方法。具有多孔成分的包裝,例如具有多孔蓋材料的托盤(pán),也可以通過(guò)掩蔽多孔包裝成分的真空衰減來(lái)測試。為了進(jìn)行測試,首先將測試樣品放置在與泄漏測試系統氣動(dòng)連接的緊密配合的排放測試室中,泄漏測試系統配備有外部真空源。測試室必須獨特地設計成包含測試包。帶有可移動(dòng)或柔性部件的測試樣品需要適當的工具來(lái)分別限制這些部件的移動(dòng)或膨脹。具有多孔組分的樣品需要掩蔽多孔材料。在測試開(kāi)始時(shí),將測試室加上測試系統死區排空一段預定的時(shí)間。測試所選擇的目標真空度是根據評估的測試樣本類(lèi)型預先確定的。然后將真空源與測試系統隔離。
在短暫系統平衡之后,使用絕對或差壓傳感器在預定的時(shí)間長(cháng)度內監測腔體內壓力的上升(即,真空衰減)。超過(guò)使用負控制建立的預定通過(guò)/失效極限的壓力增加表明容器泄漏??蓞⒖糀STM F2338。
應用
1、可測試無(wú)孔、剛性或柔性包裝,或具有多孔部件的包裝。
2、可以測試包含氣體、液體和/或固體材料的包裝:當暴露于測試真空條件時(shí),具有非固定部件的柔性包裝或包裝需要工具來(lái)分別限制包裝的膨脹或移動(dòng)。工具化使柔性封裝密封應力最小化,并保持在泄漏路徑上的一致的封裝體積和壓差條件。
3、帶有多孔成分的包裝可以通過(guò)使用特殊工具或阻塞輔助物來(lái)掩蔽多孔成分來(lái)測試,以使穿過(guò)多孔成分的氣流最小化。氣體頂空必須在大氣壓下或在顯著(zhù)大于測試真空條件的壓力下。
如果產(chǎn)品具有不阻擋泄漏點(diǎn)氣流的固體配方,或者它是在測試真空下?lián)]發(fā)的液體產(chǎn)品,則可以測試產(chǎn)品填充水平以下的包裝表面是否有泄漏。包裝的體積從幾毫升到幾升可以測試。測試需要從幾秒鐘到幾分鐘的時(shí)間。較長(cháng)的測試時(shí)間對于測試更大容量的包是必要的。延長(cháng)測試周期以允許檢測較小的泄漏。測試可以在實(shí)驗室環(huán)境中進(jìn)行,或者在生產(chǎn)環(huán)境中離線(xiàn)進(jìn)行。允許較長(cháng)測試時(shí)間的實(shí)驗室或離線(xiàn)測試設備通常能夠檢測較小的泄漏。更高速度的在線(xiàn)設備通常用于檢測較大的泄漏。真空衰減泄漏測試在產(chǎn)品生命周期的各個(gè)階段都是有用的。
測試系統
真空衰減泄漏測試儀器由管道和閥門(mén)系統組成,這些管道和閥門(mén)將測試室與測試系統壓力傳感器和外部真空源氣動(dòng)連接。該儀器包括適當的定時(shí)器,電子控制和監視器。還可以包括外部氣體流量計,用于周期性驗證系統性能。測試室設計獨特,能夠緊密地容納測試封裝,并且可以適當地裝配有工具以限制可移動(dòng)或柔性封裝組件的移動(dòng)或膨脹。
————注:源自于USP1207
真空衰減法密封性測試儀
濟南三泉中石微泄漏密封性測試儀采用真空/壓力衰減法測試原理,適用于包裝物密封性測試,完全無(wú)損檢測技術(shù),滿(mǎn)足ASTM測試方法。高精度的測試技術(shù)能夠檢測到微型小孔的泄漏。如需了解更多真空衰減法及產(chǎn)品信息,歡迎咨詢(xún)濟南三泉中石。
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